第45届日内瓦国际发明展最高奖项“特别嘉许金奖”

2017年3月29日至4月2日，第45届日内瓦国际发明展在瑞士日内瓦举行。日内瓦国际发明展（Geneva International Exhibition of Inventions）创办于1973年，由世界知识产权组织、瑞士联邦政府等共同举办，是世界上最大规模及知名度最高的发明展览会之一。在此次发明博览会上，共有来自40个国家和地区的近1000项发明成果参展，其中来自中国内地的发明共83项。

此次发明展，我公司参展的“超高分辨率光矢量分析仪”用于光器件幅度、相位和偏振响应的测量，在大容量光通信、高精度传感、超高速片上信号处理、集成光子学等领域有重要的应用价值。其分辨率高达1飞米，比当前全球市场上唯一商用光矢量分析仪表产品的分辨率提高了1600倍，相位测量精确度提高了10倍。

展览期间，我公司展区接洽外国友人达千余人，到我公司展台参观的观众络绎不绝，其中专业观众及评委与我公司技术团队进行了深度的技术交流。

最终，我公司的核心技术与产品得到大赛组委会的高度认可，荣获日内瓦国际发明展最高奖项——“特别嘉许金奖”。